Caracterización precisa de fuentes infrarrojas.

La demanda de soluciones de medición IR ha aumentado significativamente en los últimos años. IR Leds y los láseres de IR, como VCSELS, han habilitado muchas aplicaciones nuevas en el campo de "Sensación IR", utilizando la gama NIR (800-1000 nm), pero también más altas longitudes de onda como 1380 nm. Las tareas de medición van desde la detección 3D (reconocimiento facial, LIDAR y Monitoreo del controlador de la cabina automotriz) a los sensores ópticos de huellas dactilares y el monitoreo de la atención médica.

Los sistemas de instrumentos han desarrollado una gama de nuevos productos y ofrece una amplia cartera de medición de IR para LEDs IR y fuentes láseras como VCSEL. Permite analizar la salida óptica. (como el poder óptico, el espectro y la forma de pulso) de los emisores de IR bajo diversas condiciones de conducción eléctrica (hasta los pulsos de nanosegundos) y el control de la temperatura. Además, se pueden obtener equipos de medición basada en cámara para medición VCSEL.

Los sistemas de prueba para los emisores de IR de los sistemas de instrumentos son de diseño modular y se adaptan individualmente a las tareas de medición del cliente. Esto se aplica igualmente al laboratorio y las pruebas de producción automatizadas. . Nuestros expertos en aplicaciones configuran el sistema para todos los principales emisores de IR, para medir tanto fuentes de banda estrecha como diodos láser / vcsels, LED y otros emisores de banda más amplios.

Nuestra solución del sistema consiste en los siguientes componentes: equipos de medición radiométricos calibrados, fuentes de alimentación opcionales y control de temperatura para el DUT, y los módulos de software requeridos.

Sus características clave son:

• alta modularidad y precisión de medición

• amplio rango espectral (200-2150 nm)

• Resolución espectral alta (hasta 0.09 nm)

• Calibración rastreable a un laboratorio nacional (PTB o NIST)

• Integración de control de temperatura y fuentes de energía para DUT

• Generador de pulsos y medición de pulso (hasta pulsos de μs)

https://www.instrumentsystems.com/en/systems/ir-measurement/